測量晶振振蕩頻率差異的方法
來源：http://m.lbfp.com.cn 作者：億金電子 2019年08月16
億金電子專業生產銷售石英晶體,SMD晶振,除了優異的產品,億金電子也免費提供晶振技術資料以及產品解決方案.以下是億金電子介紹的測量晶振振蕩頻率差異的方法.
如先前所介紹的(晶振振蕩頻率差概述),振蕩頻率的差異由下式表示,因此測量目標是a和b.
dF：電路上的晶體振蕩器振蕩頻率與參考頻率
F 之間的差值：參考頻率
a：指定負載電容下的晶體振蕩器振蕩頻率CL
b：電路上的 晶體振蕩器振蕩頻率
1、“a：在指定負載容量CL下的晶體振蕩器振蕩頻率”的測量方法
<概述>使用
網絡分析儀和負載容量CL夾具,以下測量程序(當NDK晶體振蕩器安裝在基板上時*按照步驟1)測量實驗晶體單元的頻率.
(*1)如果板上沒有安裝NDK晶振產品,請準備適當的NDK晶體單元并將其用作實驗晶體單元.
<測量程序>
(1)用烙鐵拆下安裝在電路板上的石英貼片晶振單元.
(2)去除附著在石英晶體單元上的多余焊料后,等到晶體單元達到室溫.
(3)將晶體單元設置在負載容量CL jig中(負載容量CL jig的容量是規格中指定的負載容量CL).
(4)在網絡分析儀上設置負載容量CL jig,并根據網絡分析儀手冊測量晶體單元的頻率.
2、“b：電路上的晶體振蕩器振蕩頻率”的測量方法
<概述>將實驗石英晶振,晶體振蕩器安裝在基板上,并且使用以下測量程序在指定的溫度條件下測量振蕩頻率.
<測量程序>
(1)使用烙鐵等將實驗晶振晶體單元安裝在基板上.
(2)在將晶體單元及其周圍環境穩定在指定溫度之后,晶體單元振蕩,并且天線以非接觸方式獲取振蕩信號*2.
(3)由天線擴展的振蕩信號由放大器放大到可由頻率計數器穩定測量的信號電平.
(4)用頻率計測量晶振晶體的振蕩頻率.
(*2)當通過使電壓探針與振蕩電路接觸來測量振蕩頻率時,電壓探針的電容增加并且振蕩電路電容改變,這影響振蕩頻率.NDK晶振公司使用非接觸方法更準確地測量振蕩頻率.
電路上晶體振蕩頻率的測量圖像如下所示.
如先前所介紹的(晶振振蕩頻率差概述),振蕩頻率的差異由下式表示,因此測量目標是a和b.
dF：電路上的晶體振蕩器振蕩頻率與參考頻率
F 之間的差值：參考頻率
a：指定負載電容下的晶體振蕩器振蕩頻率CL
b：電路上的 晶體振蕩器振蕩頻率
1、“a：在指定負載容量CL下的晶體振蕩器振蕩頻率”的測量方法
<概述>使用
網絡分析儀和負載容量CL夾具,以下測量程序(當NDK晶體振蕩器安裝在基板上時*按照步驟1)測量實驗晶體單元的頻率.
(*1)如果板上沒有安裝NDK晶振產品,請準備適當的NDK晶體單元并將其用作實驗晶體單元.
<測量程序>
(1)用烙鐵拆下安裝在電路板上的石英貼片晶振單元.
(2)去除附著在石英晶體單元上的多余焊料后,等到晶體單元達到室溫.
(3)將晶體單元設置在負載容量CL jig中(負載容量CL jig的容量是規格中指定的負載容量CL).
(4)在網絡分析儀上設置負載容量CL jig,并根據網絡分析儀手冊測量晶體單元的頻率.
2、“b：電路上的晶體振蕩器振蕩頻率”的測量方法
<概述>將實驗石英晶振,晶體振蕩器安裝在基板上,并且使用以下測量程序在指定的溫度條件下測量振蕩頻率.
<測量程序>
(1)使用烙鐵等將實驗晶振晶體單元安裝在基板上.
(2)在將晶體單元及其周圍環境穩定在指定溫度之后,晶體單元振蕩,并且天線以非接觸方式獲取振蕩信號*2.
(3)由天線擴展的振蕩信號由放大器放大到可由頻率計數器穩定測量的信號電平.
(4)用頻率計測量晶振晶體的振蕩頻率.
(*2)當通過使電壓探針與振蕩電路接觸來測量振蕩頻率時,電壓探針的電容增加并且振蕩電路電容改變,這影響振蕩頻率.NDK晶振公司使用非接觸方法更準確地測量振蕩頻率.
電路上晶體振蕩頻率的測量圖像如下所示.
晶體振蕩器振蕩頻率的測量圖像在電路上
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